江蘇35*175塑料電纜拖鏈
簡要描述:江蘇35*175塑料電纜拖鏈即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等,將沿工作臺面某些直線部位進(jìn)行的測量,理解為任一截面上的z大直線度誤差。而它與形位公差國標(biāo)中平面度定義規(guī)定不符,目前JB2670—82《金屬切削機(jī)床檢驗(yàn)通則》中指出,對平面度誤差的檢查測量均為按包容實(shí)際表面且距離為z小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出,作為評定基準(zhǔn)的包容平面,其位置也需要根據(jù)z小條件原則來確定。
- 產(chǎn)品型號:中意
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-08-05
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一、江蘇35*175塑料電纜拖鏈平面度誤差測量的要求
機(jī)床工作臺平面度誤差的檢測方法沿用“兩點(diǎn)法”,即利用平行平尺、千分表、等高墊塊、框式水平儀等,將沿工作臺面某些直線部位進(jìn)行的測量,理解為任一截面上的zui大直線度誤差。而它與形位公差國標(biāo)中平面度定義規(guī)定不符,目前JB2670—82《金屬切削機(jī)床檢驗(yàn)通則》中指出,對平面度誤差的檢查測量均為按包容實(shí)際表面且距離為zui小的兩平行平面間的距離。由此定義可以看出,作為評定基準(zhǔn)的包容平面,其位置也需要根據(jù)zui小條件原則來確定。所以必須首先全面掌握被測表面的誤差情況,然后才能按一定準(zhǔn)則確定評定基準(zhǔn)。這樣就決定了測量必須要分兩個(gè)步驟,即先測出實(shí)際表面上若干點(diǎn)相對于任意一個(gè)理想平面(測量基準(zhǔn))的高度,然后通過基準(zhǔn)轉(zhuǎn)換等方法,才能求出符合定義的誤差值。
二、用指示器測量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何操作和評定?
用指示器測量平面度誤差,將被測江蘇35*175塑料電纜拖鏈置于平板上,平板的工作面為測量基準(zhǔn)。測量時(shí),通常先調(diào)整被測實(shí)際表面上相距zui遠(yuǎn)的三點(diǎn)與平板等高(調(diào)平),因此由指示器測得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按三點(diǎn)法評定的平面度誤差值。也可以調(diào)整被測實(shí)際表面上一條對角線的兩端點(diǎn)與平板等高,再調(diào)整另一條對角線的兩端點(diǎn)與平板等高,于是由指示器測得的zui大讀數(shù)與zui小讀數(shù)的代數(shù)差就是按對角線法評定的誤差值。但這樣調(diào)平比較困難,可按一定的布線測量被測表面,同時(shí)記錄讀數(shù)。一般可用zui大與zui小讀數(shù)的代數(shù)差作為誤差值。必要時(shí),可按zui小條件把各測點(diǎn)的讀數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)的處理,求解誤差值。
三、用水平儀測量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問題?
用水平儀測量平面度誤差是以自然水平面作為測量基準(zhǔn),測量時(shí)應(yīng)先把被預(yù)測實(shí)際表面調(diào)整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上,再把橋板置于被測表面上,按一定的布線逐點(diǎn)測量被測表面,同時(shí)記錄各測點(diǎn)的讀數(shù)(格數(shù)),再將格數(shù)換算成線值。根據(jù)測得的讀數(shù)(線值),通過數(shù)據(jù)處理,即可獲得平面度誤差。
此方法可用來測量大平面的平面度。
四、用自準(zhǔn)直儀測量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問題?
用誤差時(shí),是將自準(zhǔn)直儀置于被測零件之外的基座上,將反射鏡安放在橋板上,并將橋板置于被測表面上。測量時(shí),應(yīng)先把自準(zhǔn)直儀與被測表面調(diào)整到大致平行。然后用測量直線度誤差的方法,按米字布線,先測出對角線上各測點(diǎn)的讀數(shù),再測出另一條對角線上各測點(diǎn)和其余截面上各測點(diǎn)的讀數(shù),并將這些讀數(shù)換算成線值。根據(jù)測得的讀數(shù)(線值),利用兩條對角線的交點(diǎn)來確定符合對角線法則的理想平面,再按此理想平面求解平面度誤差值。必要時(shí)再進(jìn)一步按zui小條件求解誤差值。
此方法可用不測量大平面的平面度。
五、用平晶測量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何評定?
應(yīng)用光學(xué)平晶測量小平面,測量時(shí)將平晶貼于被測表面上,若被測表面內(nèi)凹或外凸,就會出現(xiàn)環(huán)形干涉帶,根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半波長的乘積來表示平面度誤差。如果干涉條紋不封閉,可使光學(xué)平晶與被測表面間略微傾斜一個(gè)角度,使兩者之間形成一空氣楔。這種按干涉帶的彎曲度與相鄰兩干涉帶之間的比值,再乘以半波長即得誤差值。不過,按此法評定的誤差實(shí)際上是以直線度誤差代替了平面度誤差。過去用平晶只能測小平面。近年來有了平晶干涉儀,應(yīng)用這種儀器也可以利用平晶干涉法來測量較大的平面。
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